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2009 中国仪器仪表与测控技术发展观望与分析

 发布时间:2009-04-30 点击量:3445

由中国仪器仪表学会主办,《仪器仪表学报》、《电子测量与仪器学报》、《国外电子测量技术》、《电子测量技术》杂志社联合承办的“2009 中国仪器仪表与测控技术大会”将于2009年7月23~26日在哈尔滨举办。本次会议旨在促进我国仪器仪表与测控技术的发展,加快该领域的新理论、新方法、新技术的应用与推广,推进本行业产、学、研合作与交流。

  首届CIMCTC会议于2007年6月在成都举行,第二届会议于2008年6月在湖南湘潭举办,历次会议规模均超过300人。往届会议期间,张钟华院士、高洁院士、杨士中院士、俞梦孙院士等我国仪器仪表与测控技术及相关领域的专家、学者出席会议并作专题报告,国内外许多家企业给与鼎力支持,使会议成为在本行业内具有很大影响力的交流平台。

  2009`中国仪器仪表与测控技术大会将于2009年7月23日在哈尔滨召开。大会热忱欢迎广大同行踊跃投稿,大会面向以下10个专题征集学术论文。经审稿专家审阅,被录用论文将发表在《仪器仪表学报》增刊上,所有录用论文均进EI收录。

  现将2009 中国仪器仪表与测控技术大会有关事宜通知如下:

  一、会议专题

  科学与实验仪器

  通用仪器与仪表

  传感与计量技术

  光电子工程与通信

  测控基础理论研究与前沿技术

  复杂系统故障诊断、预测和健康管理

  工程、结构、环境等安全检测与监控

  测试技术与信号处理

  工业过程控制与生产自动化

  光、机、电一体化测试技术及其应用